2024年9月20日，第二十屆全國光學測試學術交流會“近眼顯示檢測”論壇在浙江余姚召開。會上，精測電子高級研究員劉璐寧博士發(fā)表了題為《AR/VR顯示模組的圖像質量測量與優(yōu)化》的主題報告，該報告從AR/VR圖像質量高精度測量方法和圖像質量優(yōu)化方法兩個方面對當前AR/VR顯示模組的圖像質量問題進行了匯報。
面對AR/VR顯示技術的蓬勃發(fā)展，精測電子積極布局，相繼推出多款針對Mini/Micro LED及AR/VR領域的產品及技術解決方案。其中公司開發(fā)的NED DeX技術，使用高精度的NED測量儀器，實現(xiàn)了對AR/VR模組光學特性參數(shù)的全面、精準測量，并在高精度測量結果的基礎上完成對模組顯示質量的優(yōu)化，如亮色度均勻性、畸變、雙目一致性等。
精測電子開發(fā)的JI-NED-HSI AR/VR全視場光譜分析儀系列產品，支持全視場FOV（90°/120°）內的高精成像式光譜測量，能夠全面掌握產品在整個測量視場內的詳盡光譜數(shù)據(jù)，并針對AR/VR應用中的單像素進行精確的光譜分析，以便于進行顏色顯示質量的深入研究。產品采用先進校準及光譜分析技術，確保了測量結果的準確性和可靠性，為近眼顯示產品的色彩表現(xiàn)和圖像質量提供了強有力的基準數(shù)據(jù)支持。
JI-NED-HSI AR/VR全視場光譜分析儀系列產品在今年4月國際顯示大會ICDT 2024上榮獲“I-Zone創(chuàng)新產品”三等獎，5月亮相SID 2024美國國際顯示周（SID 2024 DISPLAY WEEK），優(yōu)秀的產品性能收獲了與會專家學者的一致好評。
展望未來，精測電子將不斷突破技術瓶頸，為近眼顯示及其他新興領域提供更加優(yōu)質、高效的檢測解決方案，助力顯示檢測行業(yè)新質生產力發(fā)展。